ELECTROTEST JAPAN – 2027年电子制造与研发领域的测试项目
从 2027年2月17日 开始，直到2027年2月19日。
At 东京 – 日本东京，东京国际展览中心 ( 显示地图)
请在参加之前，再次确认下方主办方所给出的日期和地点是否正确。
ELECTROTEST JAPAN是亚洲范围内专门针对电子制造及研发领域中的测试、检测、测量与分析领域的专业展会。该展会由RX Japan主办，作为NEPCON JAPAN系列专业展会之一而举办。
下一届展会是NEPCON JAPAN二月展的组成部分，将于2027年2月17日至19日在美国东京的东京Big Sight举办，时间从上午10点持续到下午5点（日本标准时间）。正式参观者预注册信息可以在NEPCON JAPAN东京展会的网站上找到。
该展览涵盖了测试人员、检测设备（包括3D检测设备）、PCB检测技术、X射线系统以及相关的研发与制造测试技术。ELECTROTEST JAPAN被列在主办方举办的2月份东京展览会上，但并未被列入9月份的东京展览会名单中。
- 日期：2027年2月17日（星期三）至2月19日（星期五）
- 工作时间：10:00–17:00（日本标准时间）
- 地点：东京Big Sight（东京都江东区Ariake 3-11-1）
- 主办方：RX Japan
请注册以参与活动或占据摊位。
请通过ELECTROTEST JAPAN的官方网站进行注册——该网站负责电子制造与研发领域的测试工作。