SWTest – 2027年半导体晶圆测试会议

SWTest - Semiconductor Wafer Test Conference Carlsbad 2027
从 2027年6月7日 开始,直到 2027年6月9日。
请在参加之前,再次确认下方主办方所给出的日期和地点是否正确。

半导体晶圆测试会议(SWTest)是唯一一个长期举办的、专注于微电子晶圆及芯片级测试各个方面的行业盛会。2027年的会议将于6月7日星期一至6月9日星期三在加利福尼亚州卡尔斯巴德的Omni La Costa度假村举行。

该活动是一个为期两天半的技术会议,开幕式在周一举行,之后会进行主题相关的讨论环节,会议期间还会举办海报展示活动。此外,还有社交活动、非正式交流机会,以及可选的周日高尔夫球赛,这些活动为与会者提供了与制造商和供应商互动的机会。

SWTest已经举办了超过35年,它是一个以技术论坛形式组织的活动,参与者可以在这里交流关于行业最新发展的想法。2027年的会议预计在2027年2月在线开放注册;官方网站会发布与卡尔斯卡德会议相关的议程、酒店信息以及参展商的信息。


请注册以参与活动或占据摊位。

请通过SWTest的官方网站进行注册——这是半导体晶圆测试会议的官方网站。

会场地图及周边酒店信息

卡尔斯巴德 – 美国加利福尼亚州,Omni La Costa度假村及水疗中心