SWTest - 半导体瓦费尔试验会议 2027

SWTest - Semiconductor Wafer Test Conference Carlsbad 2027
从 2027年6月7日 开始,直到 2027年6月9日。
请在参加之前,再次确认下方主办方所给出的日期和地点是否正确。
类别:电子工业
标签:半导体, (),会议

SWTest(半导体Wafer Test Conference)是唯一一个专注于微电子华费和死级测试的行业活动,拥有超过35年的历史. 官方网站将SWTest 2027列为自6月7日星期一至2027年6月9日星期三在加利福尼亚州卡尔斯巴德的Omni La Costa度假村举行的为期两天半的会议.

方案包括星期一有远见的主旨发言、以主题为主的会议安排的技术专题介绍、咖啡休息期间的海报演示、以及SWTest EXPO,其中主要探测卡、探测器设备和有关服务提供者展示产品和服务。 会外活动包括6月6日星期日举办的高尔夫锦标赛,赞助招待活动,以及非正式联网的社会活动.

登记、旅馆信息、运输和程序细节均在swtest.org上公布.


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会场地图及周边酒店信息

卡尔斯巴德 – 美国加利福尼亚州,Omni La Costa度假村及水疗中心